NLZH-15夫蘭克-赫茲實驗儀 儀器簡介： 此設備采用液晶觸摸顯示屏式結構，操作便捷，可直觀操作和讀數，直觀便捷，夫蘭克--赫茲實驗為研究原子內部的能量時態問題，用低速電子去轟擊原子，從而觀察他們之間的相互能量傳遞過程，證明原子內部量子化的存在。

NLZH-6B光電效應實驗儀（普朗克常量） 儀器簡介： 此儀器是利用光電效應的原理來計算普朗克量數，首先要得到不同光照頻率的遏制電壓，做出遏制電壓與光照頻率的關系曲線--一條直線，由于遏制電壓滿足Ube=hv/EW0/e，則該直線的斜率為h/e，用計算機模擬可以得到該直線的方程式，然后得到其斜線率，這樣普朗克常量h=ke就可以了。

HNL-55700多束光纖激光源采用550mm中功率激光管和進口高傳輸性光纖，通過精密光學分束機構分至七束光纖，每束光纖長度為4米，多為七臺邁氏干涉儀提供擴束光源。

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統 本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試、距離、速度測試、物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置 利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。 實驗內容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖，了解激光散斑現象及其特點 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點分析和全場分析測物體面內位移的方法

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統 電子散斑干涉（ESPI）實驗系統借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現代光測技術。激光的高相干性使散斑現象顯而易見，采用CCD攝像機，使之可采用計算機處理數據和圖像。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

SGD-2 單光子計數實驗系統 該實驗系統，由單光子計數器，半導體制冷系統，外光路光學系統，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統采用了脈沖高度甄別計數和數字計數技術，具有較高的線性動態范圍。輸出的數字信號，便于計算機處理，為教師做相關教學提供了必要的實驗環境。

WGL-8晶體電光調制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應原理的激光振幅調制器的使用，掌握晶體電光調制的原理和實驗方法；學會用簡單的實驗裝置測量晶體半波電壓，電光常數；觀察電光效應引起的晶體光學特性的變化和會聚偏振光的干涉現象；進行激光通信演示實驗。

WGL-3 脈沖調Q Nd：YAG倍頻激光器實驗裝置 該實驗系統讓學生通過自己動手裝調激光器，掌握激光器的基本結構、主要參數、輸出特性、調整方法、以及調Q、選模、倍頻等。使學生對激光器的原理，激光技術有較全面的認識。

WGL-6 氦氖激光器模式分析實驗裝置 在激光器的生產與應用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩頻和激光測距等不僅要基橫模而且要求單縱模運行的激光器。因此，進行模式分析是激光器的一項基本又重要的性能測試。